设备型号：UH4150型

设备功能：

  本设备是一款高性能落地式分光光度计，覆盖紫外、可见至近红外宽波段范围，配备大积分球、变角附件及高低温附件，专为半导体、材料科学等领域固体、薄膜及不规则样品的透射/反射/吸收光谱及变温变角光学性能测试设计。

核心性能亮点

• 宽波段与高精度：波长范围185~3300 nm，紫外/可见区波长准确度±0.2 nm，近红外区±1.0 nm。

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• 高通光双单色器：低偏振、低噪声设计，配合平行准直光束，实现高精准反射/透射测量。

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• 超大内置光学平台：≥650×450×300 mm，可放置≥410×410 mm大尺寸样品；光源自动切换（氘灯/卤钨灯），光斑形状多档可选。

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• 多检测器系统：紫外-可见区采用光电倍增管R928，近红外区采用冷PbS检测器，均具自动增益功能；直射光检测覆盖190~3300 nm。

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• 大积分球检测器：Ф 60 mm，测试范围240~2600 nm，适配固体/薄膜/不规则样品。

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• 扩展附件与功能

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• 变角附件：同一位置实现绝对透射/反射测试，角度范围10°~60°，样品尺寸8×8 mm至90×100 mm，检测范围240~2600 nm（含偏振支架和偏振镜）。

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• 高低温附件：温度范围-50~300℃，控温精度±0.1℃，银质样品台，支持气氛保护；可与主机软件联动，温度稳定后自动触发光谱采集（≥70个测量点）；具备液氮自动添加功能，无需人工干预。

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• 标准配置

• Ф60 mm积分球、配套样品夹具、变角附件（含偏振支架与偏振镜）、高低温附件、固体、液体样品支架各1套。